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戴顿大学研究：CLIP模型助力工厂少样本缺陷检测

戴顿大学团队验证CLIP模型可助力工厂少样本缺陷检测。传统视觉检查需数千张标记数据，耗时数月且成本高。该研究利用预训练模型的通用视觉能力，仅需少量特定缺陷示例即可调整识别瑕疵，为中小制造商降低应用门槛。